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慶祝我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進成功

更新日期:2025-06-26      瀏覽次數:457

熱烈祝賀我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進項目圓滿成功!這一成果凝聚著全體研發團隊的智慧與汗水,標志著我司在晶振檢測技術領域實現新突破。此次改進大幅提升測試精度與效率,為產品質量管控注入更強動力,期待未來繼續攜手,攀登更多技術高峰!

慶祝我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進成功

經過此次技術升級,以下這些32.768KHz晶振均可以快速測試,有效提高了測試效率。

圖片類型型號封裝尺寸頻率電壓/負載頻差工作溫度樣品申請PDF
慶祝我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進成功32.768KHz 時鐘晶振 SMD2012H212.0x1.2x0.6mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-40℃~+85℃ or specif瀏覽
慶祝我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進成功32.768KHz 時鐘晶振 SMD3215H313.2x1.5x0.75mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-40℃~+85℃ or specif瀏覽
慶祝我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進成功32.768KHz 時鐘晶振 SMD7015G1467.0x1.5mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-40℃~+85℃ or specif瀏覽
慶祝我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進成功32.768KHz 時鐘晶振 SMD8038G3068.0x3.8x2.54mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-40℃~+85℃ or specif瀏覽
慶祝我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進成功32.768KHz 圓柱晶振 2*6Y262.0x6.0mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-20℃~+70℃ or specif瀏覽
慶祝我司32.768KHz貼片晶振測試儀改進成功32.768KHz 圓柱晶振 3*8Y383.0x8.0mm32.768KHz12.5pF or specif±10ppm or specif-20℃~+70℃ or specif瀏覽


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